
深圳市羽杰科技MLJ-WG500氮化镓清洗剂,针对GaN材料特性研发,金属离子残留≤0.1ppm,有机物去除率≥99.2%,适配多领域半导体清洗,提供高效低损环保解决方案。
氮化镓(GaN)作为第三代宽禁带半导体核心材料,凭借3.4 eV的禁带宽度、高电子迁移率等优势,广泛应用于消费电子快充、5G通信、数据中心电源等领域。其表面清洁度直接决定器件导通电阻、开关损耗及使用寿命,针对氮化镓材料易氧化、对污染物敏感的特性,深圳市羽杰科技自主研发MLJ-WG500氮化镓专用清洗剂,以精准配方与卓越性能,满足6-8英寸氮化镓晶圆及器件全流程清洗需求,助力提升半导体器件良率与可靠性。
一、核心技术优势:精准适配氮化镓材料特性
1. 全维度污染物清除,残留量达行业严苛标准
MLJ-WG500采用改良型类APM溶剂体系,融合碱性组分与复合氧化剂(过氧乙醇-硼酸钠复配体系),可同步高效清除氮化镓表面有机污染物、金属杂质及微粒污染,解决传统清洗方法难以兼顾多类型污染物的痛点。经原子发射光谱(AES)检测,清洗后表面碳(C)、氧(O)残留量分别低于0.05 atomic%、0.08 atomic%,金属离子(Na⁺、K⁺、Fe³⁺等)总残留量≤0.1 ppm,远优于行业0.5 ppm的平均标准,有效避免高温制程中杂质扩散对器件性能的影响。
2. 低损伤表面优化,保障材料本征性能
针对氮化镓六方晶体结构特性,MLJ-WG500通过精准调控蚀刻速率(0.02-0.05 nm/min),在去除表面缺陷层的同时,避免过度蚀刻导致的表面粗糙化。经原子力显微镜(AFM)测试,清洗后氮化镓表面均方根粗糙度(RMS)≤0.2 nm,表面平整度较传统清洗剂提升40%,且Ga/N原子比稳定维持在1:1.02±0.03的理想范围,无明显组分偏离。同时,配方中添加专用缓蚀组分,可形成纳米级保护膜,有效防止清洗后表面再氧化,静置24小时后氧化层厚度增长≤0.3 nm。
3. 高兼容性配方,适配多场景工艺需求
MLJ-WG500具备优异的材料兼容性,对硅基氮化镓(GaN-on-Si)、蓝宝石衬底氮化镓等主流技术路线产品无腐蚀损伤,可兼容光刻胶剥离后清洗、金属化前预处理、封装后残留清洗等多工艺环节。清洗液pH值稳定在10.5±0.3,工作温度范围为25-45℃,无需高温环境即可实现高效清洗,相较于传统RCA清洗法,化学品消耗量减少35%,能耗降低40%,兼具环保性与经济性。
二、关键技术参数
参数项目 |
指标数值 |
测试标准/方法 |
外观 |
无色透明液体,无可见杂质 |
目视观察(GB/T 6226-2005) |
pH值(25℃) |
10.5±0.3 |
精密pH计测试 |
密度(25℃) |
1.03±0.02 g/cm³ |
密度瓶法(GB/T 4472-2011) |
有机物去除率 |
≥99.2% |
AES表面扫描分析 |
金属离子残留量 |
≤0.1 ppm |
电感耦合等离子体质谱(ICP-MS) |
表面粗糙度(RMS) |
≤0.2 nm(5μm×5μm区域) |
原子力显微镜(AFM) |
工作温度范围 |
25-45℃ |
恒温槽测试 |
保质期 |
12个月(密封阴凉处存放) |
加速老化试验(40℃,90天) |
三、典型应用场景
MLJ-WG500凭借精准的性能调控,已广泛适配氮化镓功率器件、射频器件及光电子器件的生产流程,具体应用包括:
• 消费电子领域:氮化镓快充适配器芯片、笔记本电脑电源管理芯片的金属化前清洗,可使器件开关损耗降低15-20%,能效提升至95%以上;
• 通信领域:5G基站射频功率放大器(PA)氮化镓器件清洗,有效提升信号传输速率与覆盖范围,减少杂波干扰;
• 数据中心/汽车电子:服务器电源、车载充电器(OBC)氮化镓模块封装后残留清洗,满足车规级AEC-Q101认证对清洁度的严苛要求;
• 晶圆制造领域:6-8英寸氮化镓外延片清洗,助力提升外延层生长质量,降低缺陷密度至10² cm⁻²以下。
四、产品价值与承诺
深圳市羽杰科技深耕半导体清洗材料领域,MLJ-WG500氮化镓专用清洗剂通过ISO 9001质量管理体系认证,每批次产品均经过严格的性能检测,确保参数一致性与稳定性。产品可根据客户工艺需求提供定制化调整方案,搭配自动化清洗设备使用时,单台设备日均清洗量可达4500-5000片晶圆,清洗均匀性(CV值)稳定在3%以内,助力客户实现产能提升与成本优化。
羽杰科技始终以“赋能第三代半导体产业升级”为使命,依托核心配方研发能力,为氮化镓器件生产提供高效、低损、环保的清洗解决方案,携手客户共筑高端半导体制造核心竞争力。
本文标题:MLJ-WG500氮化镓清洗剂_半导体GaN材料高效清洗解决方案-羽杰科技
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